SJ/T 10739-1996
半导体集成电路 MOS随机存储器测试方法的基本原理
Semiconductor integrated circuits - General principles of measuring methods for MOS random access memories
SJT10739-1996, SJ10739-1996
2010-02
- 标准号
- SJ/T 10739-1996
- 别名
- SJT10739-1996, SJ10739-1996
- 发布单位
- 行业标准-电子
- 当前最新
- SJ/T 10739-1996
SJ/T 10739-1996相似标准
推荐
大咖干货 | 集成电路的软错误率（SER）的发生与评估
关于广电计量半导体服务广电计量在全国设有元器件筛选及失效分析实验室，形成了以博士、专家为首的技术团队，构建了元器件国产化验证与竞品分析、集成电路测试与工艺评价、半导体功率器件质量提升工程、车规级芯片与元器件AEC-Q认证、车规功率模块AQG324认证等多个技术服务平台、满足装备制造、航空航天、汽车、轨道交通、5G通信、光电器件与传感器等领域的电子产品质量与可靠性的需求。...
863项目“相变随机存储器存储材料及关键技术”通过检查
9月6日，由中国科学院上海微系统与信息技术研究所宋志棠研究员主持承担的863计划重点课题项目“相变随机存储器存储材料及关键技术”通过中期检查。 国家集成电路研发中心主任赵宇航、国家科技部高技术研究中心处长史冬梅、材料处办公室张芳以及中科院半导体所副所长陈弘达、中科院光机所主任吴谊群作为评审专家出席了会议。...
【线下活动】马尔文帕纳科即将亮相上海半导体展 Semicon China 2021
01Semicon China 2021展期：2021年3月17日-19日展馆：上海新国际博览中心地址：上海市浦东新区龙阳路2345号展位号：N3-3137马尔文帕纳科半导体行业薄膜测量解决方案展位号 N3-3137多年来，电子行业在硅半导体、数据存储、随机存取存储器(RAM)、集成电路(IC)和RF射频滤波器技术的支持下迅速发展，这些器件大多在硅晶片基板上采用多层薄膜。...