GB/T 17574.9-2006
半导体器件.集成电路.第2-9部分:数字集成电路.紫外光擦除电可编程MOS只读存储器空白详细规范
Semiconductor devices.Integrated circuits.Part 2-9:Digital integrated circuits.Blank detail specification for MOS ultraviolet light erasable electrically programmable read-only memories
GBT17574.9-2006, GB17574.9-2006
- 标准号
- GB/T 17574.9-2006
- 别名
- GBT17574.9-2006, GB17574.9-2006
- 发布
- 2006年
- 采用标准
- IEC 60748-2-9:1994 IDT
- 发布单位
- 国家质检总局
- 当前最新
- GB/T 17574.9-2006
- 引用标准
- GB/T 4728.12-1996 GB/T 4937-1995 IEC 60068-2-17:1978 IEC 60134:1961 IEC 60747-10/QC 700000:1991 IEC 60748-11/QC 790100:1990
- 适用范围
- IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC的章程，并在IEC的授权下进行工作。该体系的目的是确定质量评定程序，以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。
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