找不到引用ISO 21222:2020 表面化学分析.扫描探针显微镜.用原子力显微镜和两点JKR法测定柔顺材料弹性模量的程序 的标准
利用AFM PINPOINT 纳米机械模式定量材料的弹性模量 比力体积谱快两个数量级 介绍自原子力显微镜发明以来,原子力显微镜通过在纳米尺度上提供精确、可靠、无损的成像,在材料科学和元件工程中产生了革命性的影响。原子力显微镜被广泛用于纳米技术应用当中,像生物医学可植入驱动器、电池超薄阴极材料、光电探测器和存储器和逻辑电路开关。...
一般常见的材料分析技术,不外乎想要得知试片的:(1)表面或材料内部的显微结构影像,此类的代表仪器包括扫描式电子显微镜(SEM)、穿透式电子显微镜(TEM)及原子力显微镜(AFM)等;(2)材料成份分析,此类的代表仪器包括X光能量散布分析仪(EDS)、表面化学分析仪(ESCA)、欧杰电子显微镜(AES)及二次离子质谱仪(SIMS)等; (3)材料结晶结构鉴定与分析,此类的代表仪器包括X光绕射分析仪(...
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