一般常见的材料分析技术,不外乎想要得知试片的:(1)表面或材料内部的显微结构影像,此类的代表仪器包括扫描式电子显微镜(SEM)、穿透式电子显微镜(TEM)及原子力显微镜(AFM)等;(2)材料成份分析,此类的代表仪器包括X光能量散布分析仪(EDS)、表面化学分析仪(ESCA)、欧杰电子显微镜(AES)及二次离子质谱仪(SIMS)等; (3)材料结晶结构鉴定与分析,此类的代表仪器包括X光绕射分析仪(...
原子力显微镜(AFM)原子力显微镜是以扫描隧道显微镜基本原理发展起来的扫描探针显微镜。原子力显微镜的出现无疑为纳米科技的发展起到了推动作用。以原子力显微镜为代表的扫描探针显微镜是利用一种小探针在样品表面上扫描,从而提供高放大倍率观察的一系列显微镜的总称。原子力显微镜扫描能提供各种类型样品的表面状态信息。...
原子力显微镜为扫描探针显微镜家族的一员,具有纳米级的分辨能力,其操作容易简便,是目前研究纳米科技和材料分析的最重要的工具之一。原子力显微镜是利用探针和样品间原子作用力的关系来得知样品的表面形貌。至今,原子力显微镜已发展出许多分析功能,原子力显微技术已经是当今科学研究中不可缺少的重要分析仪器。...
表面分析有扫描和透射显微镜分析法、电子及离子探针法、扫描隧道显微镜、原子力显微镜及各种能谱仪(光电子、俄歇电子能谱仪)分析法等。...
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