今天课程的第一讲是由华中科技大学刘世元教授带来的《椭偏测量原理及在纳米测量中的应用》。刘老师首先介绍了偏振光学基础知识、传统椭偏测量基本原理及其在多层纳米光学薄膜表征中的应用，接下来阐述了基于穆勒矩阵椭偏仪的纳米结构形貌测量方面的最新研究进展。刘老师娓娓道来，深入浅出，同学们在学习椭偏测量在纳米测量中的应用的过程中，开阔了视野，打开了思维，受益匪浅。...
另外一种测量的方式是同时测量整个光谱范围，将复合光束的波长展开，利用探测器阵列来检测各个不同的波长信号。在需要快速测量的时候，通常是用这种方式。傅立叶变换分光计也能同时测量整个光谱，但通常只需一个探测器，而不用阵列，这种方法在红外光谱范围应用最为广泛。...
2 椭偏光谱测量原理椭偏光谱测量以光波为测量媒介，可以测定任意波长下 2 个相互独立的椭偏参数，通过对椭偏参数的求解即可获得样品的光学性质，具有非破坏性与非接触的优点。被测的样品可以是固体、液体或者薄膜，可以在大气、真空、高温等多种环境下对样品结构与光学性质进行研究。...
椭偏仪1是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量设备。由于厚度和折光率测量精度高，与样品非接触，对样品没有破坏且不需要真空，使得椭偏仪成为一种极具吸引力的测量设备。利用椭偏仪来测量薄膜的过程就是椭偏仪测量。...
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