NS-EN ISO 3497:2000
金属覆盖层 覆盖层厚度测量 X射线光谱法（ISO 3497:2000）

Metallic coatings — Measurement of coating thickness — X-ray spectrometric methods (ISO 3497:2000)

标准号

NS-EN ISO 3497:2000

发布

2001年

发布单位

SCC

当前最新

NS-EN ISO 3497:2000

 

 

适用范围

采纳来源：EN ISO 3497:2000 警告 本国际标准不涉及人员防 X 射线的问题。有关这一重要方面的信息，应参考当前的国际和国家标准以及当地法规（如有）。
1.1 本国际标准规定了使用 X 射线光谱法测量金属涂层厚度的方法。
1.2 本国际标准适用的测量方法基本上是确定单位面积质量的方法。利用涂层材料密度的知识，测量结果也可以表示为涂层的线性厚度。
1.3 测量方法允许同时测量最多三层的涂层系统，或同时测量最多三个组件的层的厚度和成分。
1.4 给定涂层材料的实际测量范围主要取决于要分析的特征 X 射线荧光的能量和可接受的测量不确定度，并且可能因所使用的仪器系统和操作程序而异。

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