60749-11 CORR 1-2003 Dispositifs A Semiconducteurs - Methodes D?essais Mecaniques et Climatiques - Partie 11: Variations Rapides De Temperature - Methode Des Deux Bains CORRIGENDUM 1 (Edition 1.0)
Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods - Part 11: Rapid Change of Temperature - Two-Fluid-Bath Method CORRIGENDUM 1 (Edition 1.0)
Dispositifs A Semiconducteurs - Methodes D?essais Mecaniques et Climatiques - Partie 11: Variations Rapides De Temperature - Methode Des Deux Bains CORRIGENDUM 1 (Edition 1.0) 是非强制性国家标准,您可以免费下载前三页