BS ISO 13067:2020
微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测量
Microbeam analysis. Electron backscatter diffraction. Measurement of average grain size
- 标准号
- BS ISO 13067:2020
- 发布
- 2020年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 当前最新
- BS ISO 13067:2020
- 适用范围
- ISO 13067 是什么？ ISO 13067 是一项讨论电子背散射衍射微束分析的国际标准。 ISO 13067 规定了使用背散射衍射 (EBSD) 测量二维抛光横截面平均晶粒尺寸的程序。 ISO 13067 要求测量取向、迷失方向和图案质量因数作为晶体样品中位置的函数。 ISO 13067 适合谁？关于电子背散射衍射的 ISO 13067 适用于：
BS ISO 13067:2020相似标准
推荐
一文看懂EBSD!
EBSD采集的硬件部分通常包括一台灵敏的CCD摄像仪和一套用来花样平均化和扣除背底的图象处理系统。图1是EBSD系统的构成及工作原理。 在扫描电子显微镜中得到一张电子背散射衍射花样的基本操作是简单的。相对于入射电子束，样品被高角度倾斜，以便背散射(即衍射)的信号EBSP被充分强化到能被荧光屏接收（在显微镜样品室内），荧光屏与一个CCD相机相连，EBSP能直接或经放大储存图象后在荧光屏上观察到。...
XRD、TEM、AFM表征粒径的方式及异同
XRD：采用X 射线衍射法计算纳米粒子的平均粒径是因为高角度(2θ＞50°)X 射线衍射线的Kα1 与Kα2 双线会分裂开，造成线宽化的假象，这会影响实际线宽化测量值。其次，X 射线衍射法测定的是纳米粒子的晶粒度，当纳米粒子为单晶时，测量的直径即为颗粒粒径；当粒子为多晶时，测量的为平均晶粒大小。所以，此时的粒径测量值可能会小于实际粒径值。当小晶体的尺寸和形状基本一致时，计算结果比较可靠。...
XRD和TEM在样品物象上表征的区别
其次，X射线衍射法测定的是纳米粒子的晶粒度，当纳米粒子为单晶时，测量的直径即为颗粒粒径；当粒子为多晶时，测量的为平均晶粒大小。所以，此时的粒径测量值可能会小于实际粒径值。当小晶体的尺寸和形状基本一致时，计算结果比较可靠。但一般粉末试样的具体大小都有一定的分布，谢乐的微晶尺度计算公式需修正，否则只能是近似结果。X射线衍射法是非破坏性检测方法，测量的准确度还与样品内部应力大小有关。 ...
纳米材料粒度测试仪器和方法大全
4.X射线衍射线宽法（XRD） XRD测量纳米材料晶粒大小的原理是当材料晶粒的尺寸为纳米尺度时，其衍射峰型发生相应的宽化，通过对宽化的峰型进行测定并利用Scherrer公式计算得到不同晶面的晶粒尺寸。对于具体的晶粒而言, 衍射hkl的面间距dhkl和晶面层数N的乘积就是晶粒在垂直于此晶面方向上的粒度Dhkl。 优点：可用于未知物的成分鉴定。 ...