IEC 62526:2007*IEEE 1450.1:2005
IEC 62526 版 1（IEEE Std 1450.1（TM）-2005）：半导体设计环境标准测试接口语言（STIL）的扩展标准

IEC 62526 Ed. 1 (IEEE Std 1450.1(TM)-2005): Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) for Semiconductor Design Environments

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标准号

IEC 62526:2007*IEEE 1450.1:2005

发布

2007年

发布单位

美国电气电子工程师学会

当前最新

IEC 62526:2007*IEEE 1450.1:2005

 

 

适用范围

标准测试接口语言 (STIL) 提供数字测试生成工具和测试设备之间的接口。测试接口语言（包含在本标准中）的扩展被定义为：（1）促进在设计环境中使用该语言，以及（2）促进在包含具有可重用模式的子设计的大型设计中使用该语言。

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