集成电路的高、低温测试都有自己的过热温度保护系统,在工厂的设定温度是+125℃,操作者可以按照自己的实际需求来设定高、低温的限定点,一旦温度超过设定的温度,测试仪就会自动停止工作。将待测 IC卡和温度传感器放在集成电路高低温测试的测试腔中,操作者设定需要测试的温度范围,从而开始集成电路高低温测试。...
IC卡动态弯曲双向扭试验机用于检测磁条卡,IC芯片卡,集成电路卡,等卡的弯曲和扭曲性能测试。 本仪器针对性IC卡在国标GB/T16649.1,国标GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998国际标准等试验标准中的弯曲、扭矩的试验;完全符合以上标准。 ...
仪器的尺寸是:长:74.5cm,宽:38cm 高:30cm 三、卡片双弯扭转试验机产品用途: 用于检测磁条卡,IC芯片卡,集成电路卡,等卡的弯曲和扭曲性能测试。 文章链接:仪器设备网 https://www.instrumentsinfo.com/technology/show-842.html...
智能卡动态弯扭试验机用于检测磁条卡,IC芯片卡,集成电路卡,等卡的弯曲和扭曲性能测试。...
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