此时,当X射线不断照射样品时,样品表面发射光电子,表面亏电子, 出现正电荷积累(XPS中荷正电),从而影响XPS谱峰,影响XPS分析。在用XPS测量绝缘体或者半导体时,需要对荷电效应所引起的偏差进行校正,称之为“荷电校正”。最常用的,人们一般采用外来污染碳的C1s作为基准峰来进行校准。以测量值和参考值(284.8 eV)之差作为荷电校正值(Δ)来矫正谱中其他元素的结合能。...
XPS作为一种高效的表面分析手段,不仅广泛应用于化学分析、材料应用开发、物理理论研究等学术领域,对于机械加工、印刷电路、镀膜材料工艺控制和纳米功能材料开发等工业领域,也能提供全方位的解决方案。随着表面分析技术拓展性的逐渐增强,各类型材料对于XPS表征分析的需求都日益增长。今年赛默飞世尔科技(中国)有限公司发布了全新一代Thermo Scientific™ Nexsa™ G2 X射线光电子能谱仪。...
仪器分析大致可以分为:电化学分析法、核磁共振波谱法、原子发射光谱法、气相色谱法、原子吸收光谱法、高效液相色谱法、紫外-可见光谱法、质谱分析法、红外光谱法、其它仪器分析法等。 ...
该技术提供了样品的详细形态信息,对于直接监测降解过程中NIBAM的形态,结构和化学变化可能非常有用。图九X射线光电子能谱(XPS)XPS是一种表面敏感的定量光谱技术,可测量样品中元素的元素组成,化学和电子状态。XPS可以检测原子序数大于或等于3(Li)的所有化学元素。XPS不仅显示元素组成,还显示它们如何键合。 ...
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