ISO 19318:2004
表面化学分析.X射线光电光谱法.电荷控制和电荷校正方法的报告

Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Reporting of methods used for charge control and charge correction


 

 

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标准号
ISO 19318:2004
发布
2004年
中文版
GB/T 25185-2010 (等同采用的中文版本)
发布单位
国际标准化组织
替代标准
ISO 19318:2021
当前最新
ISO 19318:2021
 
 
适用范围
本国际标准规定了用 X 射线光电子能谱测量绝缘样品芯层结合能时描述电荷控制和电荷校正方法的最小信息量，并应与分析结果一起报告。 还提供了有关已发现可用于结合能测量中的电荷控制和电荷校正的方法的信息。

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谁引用了ISO 19318:2004 更多引用

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