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BS EN IEC 60749-41 半导体器件 机械和气候测试方法 第41部分：非易失性存储器件的标准可靠性测试方法

BS EN IEC 60749-41. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 41. Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices

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标准号

19/30350992 DC

发布

2019年

发布单位

英国标准学会

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