PN-EN IEC 60749-41-2021-04 E
半导体器件 机械和气候试验方法 第41部分：非易失性存储器件的标准可靠性试验方法（IEC 60749-41:2020）

Semiconductor devices -- Mechanical and climatic test methods -- Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices (IEC 60749-41:2020)

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标准号

PN-EN IEC 60749-41-2021-04 E

发布

2021年

发布单位

PL-PKN

 

 

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