SJ 2657-1986
钼的光谱分析方法

Mothod of molybdeuum spectral analysis


SJ 2657-1986 中,可能用到以下仪器

 

电子精密天平TW/TX/TXB系列

电子精密天平TW/TX/TXB系列

岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司

 

SARTORIUS BSA-CW系列(全自动内校)精密天平

SARTORIUS BSA-CW系列(全自动内校)精密天平

上海人和科学仪器有限公司

 

SARTORIUS BT2202S精密天平

SARTORIUS BT2202S精密天平

上海人和科学仪器有限公司

 

SJ 2657-1986



标准号
SJ 2657-1986
发布日期
1986年01月21日
实施日期
1986年10月01日
废止日期
中国标准分类号
L04
国际标准分类号
31.020
发布单位
CN-SJ
适用范围
本标准适用于电子器件、电光源用钼材(粉、坯、杆、丝、条、带)、三氧化钼(不加添加剂)、钼酸铵及钼酸中硅、铝、铁、钙、钴、镍、锰、镁、铋、铅、钒、锡、钛、锑、镉等元素的测定。

SJ 2657-1986 中可能用到的仪器设备





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