SJ 2657-1986
钼的光谱分析方法

Mothod of molybdeuum spectral analysis

SJ 2657-1986 发布历史

本标准适用于电子器件、电光源用钼材(粉、坯、杆、丝、条、带)、三氧化钼(不加添加剂)、钼酸铵及钼酸中硅、铝、铁、钙、钴、镍、锰、镁、铋、铅、钒、锡、钛、锑、镉等元素的测定。

SJ 2657-1986由行业标准-电子 CN-SJ 发布于 1986-01-21，并于 1986-10-01 实施。

SJ 2657-1986 在中国标准分类中归属于: L04 基础标准与通用方法，在国际标准分类中归属于: 31.020 电子元器件综合。

SJ 2657-1986的历代版本如下：

• 1986年01月21日 SJ 2657-1986 钼的光谱分析方法

标准号

SJ 2657-1986

发布日期

1986年01月21日

实施日期

1986年10月01日

废止日期

无

中国标准分类号

L04

国际标准分类号

31.020

发布单位

CN-SJ

适用范围

本标准适用于电子器件、电光源用钼材(粉、坯、杆、丝、条、带)、三氧化钼(不加添加剂)、钼酸铵及钼酸中硅、铝、铁、钙、钴、镍、锰、镁、铋、铅、钒、锡、钛、锑、镉等元素的测定。

SJ 2657-1986 中可能用到的仪器设备