SJ 2214.5-1982
半导体光敏二极管结电容的测试方法

Method of measurement for junction capacitance of semiconductor photodiodes


标准号
SJ 2214.5-1982
发布日期
1982年11月30日
实施日期
1983年07月01日
废止日期
中国标准分类号
L54
国际标准分类号
31.260
发布单位
行业标准-电子
代替标准
SJ/T 2214-2015

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