SJ/T 2214-2015
半导体光电二极管和光电晶体管测试方法
Measuring methods for semiconductor photodiode and phototransistor
SJT2214-2015, SJ2214-2015
- 标准号
- SJ/T 2214-2015
- 别名
- SJT2214-2015, SJ2214-2015
- 发布
- 2015年
- 发布单位
- 行业标准-电子
- 当前最新
- SJ/T 2214-2015
- 被代替标准
- SJ/T 2214.1-1982 SJ/T 2214.2-1982 SJ/T 2214.3-1982 SJ/T 2214.4-1982 SJ/T 2214.5-1982 SJ/T 2214.6-1982 SJ/T 2214.7-1982 SJ/T 2214.8-1982 SJ/T 2214.9-1982 SJ/T 2214.10-1982
- 适用范围
- 本标准规定了半导体光电二极管和光电晶体管(以下简称“器件”)光电参数的测试方法。本标准适用于半导体光电二极管和光电晶体管光电参数的测试。本标准不适用PIN、雪崩光电二极管的测试。
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