SJ/T 10458-1993
俄歇电子能谱术和X射线光电子能谱术的样品处理标准导则

Standard guide for specimen handling in auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy


SJ/T 10458-1993 发布历史

本标准导则适用于俄歇电子能谱术(AES)和X射线光电子能谱术(XPS),也适用于其他表面灵敏分析技术。 本标准导则可能涉及有害的操作、设备及物质,但没有说明所有相关的安全问题。使用者在使用本导则前,应该制定适当的安全与保健措施,并确定本导则的应用范围。

SJ/T 10458-1993由行业标准-电子 CN-SJ 发布于 1993-12-17,并于 1994-06-01 实施。

SJ/T 10458-1993 在中国标准分类中归属于: L00 标准化、质量管理,在国际标准分类中归属于: 31.020 电子元器件综合。

SJ/T 10458-1993的历代版本如下:

  • 1993年12月17日 SJ/T 10458-1993 俄歇电子能谱术和X射线光电子能谱术的样品处理标准导则

SJ/T 10458-1993



标准号
SJ/T 10458-1993
发布日期
1993年12月17日
实施日期
1994年06月01日
废止日期
中国标准分类号
L00
国际标准分类号
31.020
发布单位
CN-SJ
适用范围
本标准导则适用于俄歇电子能谱术(AES)和X射线光电子能谱术(XPS),也适用于其他表面灵敏分析技术。 本标准导则可能涉及有害的操作、设备及物质,但没有说明所有相关的安全问题。使用者在使用本导则前,应该制定适当的安全与保健措施,并确定本导则的应用范围。

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