SJ/T 10458-1993
俄歇电子能谱术和X射线光电子能谱术的样品处理标准导则

Standard guide for specimen handling in auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy

SJT10458-1993, SJ10458-1993


标准号
SJ/T 10458-1993
别名
SJT10458-1993, SJ10458-1993
发布
1993年
发布单位
行业标准-电子
当前最新
SJ/T 10458-1993
 
 
适用范围
本标准导则适用于俄歇电子能谱术(AES)和X射线光电子能谱术(XPS),也适用于其他表面灵敏分析技术。 本标准导则可能涉及有害的操作、设备及物质,但没有说明所有相关的安全问题。使用者在使用本导则前,应该制定适当的安全与保健措施,并确定本导则的应用范围。

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xps原理有什么不同

 (1)固体表面的激发与检测  X射线光电子(XPS):激发源为X射线,用X射线作用于样品表面,产生光电子。通过分析光电子能量分布得到光电子。用于研究样品表面组成结构。又称为化学分析光电子法(ESCA)。  紫外光电子(UPS):激发源为紫外光,只能激发原子电子,用于量子化学研究。  电子(AES):激发源为电子束,用于表面成分快速分析。  ...

XPS基本原理及特点

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