T/CIE 145-2022
辐射诱生缺陷的深能级瞬态谱测试方法

Deep Level Transient Spectroscopy Testing Method for Radiation-Induced Defects


 

 

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标准号
T/CIE 145-2022
发布
2022年
发布单位
中国团体标准
当前最新
T/CIE 145-2022
 
 
适用范围
本文件规定了利用电容瞬态深能级瞬态谱测试辐射诱生缺陷的方法和程序。 本文件适用于包含P-N结、肖特基结、MOS结构的半导体器件中辐射诱生深能级缺陷的测试。

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