DANSK DS/EN IEC 60749-41:2020
半导体器件 机械和气候测试方法 第41部分：非易失性存储器件的标准可靠性测试方法

Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices

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标准号

DANSK DS/EN IEC 60749-41:2020

发布

2020年

发布单位

SCC

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DANSK DS/EN IEC 60749-41:2020

 

 

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