ASTM F448-18 测量稳态初级光电流的标准测试方法标准

适用范围: 1.1 本测试方法涵盖了半导体器件暴露于电离辐射时产生的稳态初级光电流 Ipp 的测量。这些程序旨在测量大于 10−9 A·s/Gy（Si 或 Ge）的光电流，此时被测器件的弛豫时间小于电离源脉冲宽度的 25% 。这些程序对于高达 108 Gy（Si 或 Ge）/s 的电离剂量率的有效性已经得到证实。该程序可用于剂量率高达 1010 Gy（Si 或 Ge）/s 的测量；然而，必须格外小心。超过 108 Gy/s，封装响应可能主导任何设备的设备响应。测量 10−9 A·s/Gy（Si 或 Ge）或更低的光电流时，还需要采取额外的预防措施。
1.2 本测试方法还包括设置、校准和测试电路评估程序。
1.3 由于设备类型之间和不同应用的要求存在差异，本测试方法中没有给出任何具体测试的剂量率范围，但必须单独规定。
1.4 以 SI 单位表示的值应被视为标准值。本标准不包含其他计量单位。
1.5 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任建立适当的安全、健康和环境实践，并在使用前确定监管限制的适用性。
1.6 本国际标准是根据世界贸易组织贸易技术壁垒（TBT）委员会发布的《关于制定国际标准、指南和建议的原则的决定》中确立的国际公认的标准化原则制定的。

ASTM F448-18
测量稳态初级光电流的标准测试方法