GB/T 29732—2013《表面化学分析 中等分辨率俄歇电子谱仪 元素分析用能量标校准》;4. GB/T 29557—2013《表面化学分析 深度剖析 溅射深度测量》;5. GB/T 28894—2012《表面化学分析 分析前样品的处理》;6. GB/T 19500—2004《X—射线光电子能谱分析方法通则》;7. GB/T 25184—2010《X射线光电子能谱仪检定方法》;8....
清华大学分析中心表面分析室主任姚文清致开幕词X射线光电子能谱(XPS)被广泛用于材料的表面分析。近十年来,我国XPS谱议数量及XPS相关的学术论文数量呈现飞跃式发展趋势。为了帮助X射线光电子能谱仪的操作者规范地使用XPS谱仪,准确地进行典型样品有效和有意义的XPS分析,刘芬老师对国家标准《X射线光电子能谱分析指南》进行了解读与宣贯。...
为积极推动表面分析科学与应用技术的快速发展,加强同行之间交流合作与仪器共享,共同提升理论与技术水平,促进表面分析科学研究队伍的壮大。由国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心联合仪器信息网共同主办的“X射线光电子能谱仪使用及分析规范研讨会”将于2018年3月15日在清华大学举行。...
X射线光电子能谱分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射线去辐射样品,使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来。被光子激发出来的电子称为光电子,可以测量光电子的能量,以光电子的动能为横坐标,相对强度(脉冲/s)为纵坐标可做出光电子能谱图,从而获得待测物组成。XPS主要应用是测定电子的结合能来实现对表面元素的定性分析,包括价态。...
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