KS D ISO 15472-2003(2023)
表面化学分析-X射线光电子能谱仪-能量刻度的校准

Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Calibration of energy scale

表面化学分析-X射线光电子能谱仪-能量刻度的校准 不是强制性中国国家标准，您可以免费下载预览页

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试：免费下载 KS D ISO 15472-2003(2023) 前三页，或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准，
点击右侧 “立即购买” 按钮开始采购（由第三方提供）。

标准号: KS D ISO 15472-2003(2023)
发布: 2003年
发布单位: KR-KS
当前最新: KS D ISO 15472-2003(2023)

KS D ISO 15472-2003(2023)相似标准

ISO 15472:2010 表面化学分析.X射线光电谱仪.能量刻度表校准 NF X21-055:2006 表面化学分析.X射线光电谱仪.能量刻度表校准 ISO 15472:2001 表面化学分析 X射线光电谱仪能量刻度表校准 KS D ISO 15472:2003 表面化学分析.X射线光电光谱仪.能量刻度的校正 JIS K 0145:2002 表面化学分析.X射线光电子分光计.能量刻度的校准

推荐

“第二届表面分析技术应用论坛 ——X射线光电子能谱仪使用及分析规范研讨会”通知

【会议时间】2018年3月15日全天【会议地点】清华大学理科楼D203【会议日程】09:30-10:40X射线光电子能谱分析刘芬（中科院化学所）10:40-11:50XPS定量分析中的灵敏度因子吴正龙（北京师范大学）13:30-14:40X射线电子能谱的能量标尺校准谢景林（北京大学）14:40-15:50表面化学分析样品前处理姚文清（清华大学）仪器信息网链接：http://www.instrument.com.cn...

"第二届表面分析技术应用论坛--X射线光电子能谱仪使用及分析规范"网络主题研讨会顺利召开

清华大学分析中心表面分析室主任姚文清致开幕词X射线光电子能谱（XPS）被广泛用于材料的表面分析。近十年来，我国XPS谱议数量及XPS相关的学术论文数量呈现飞跃式发展趋势。为了帮助X射线光电子能谱仪的操作者规范地使用XPS谱仪，准确地进行典型样品有效和有意义的XPS分析，刘芬老师对国家标准《X射线光电子能谱分析指南》进行了解读与宣贯。...

X射线光电子能谱分析的定义及原理

X射线光电子能谱分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射线去辐射样品，使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来。被光子激发出来的电子称为光电子，可以测量光电子的能量，以光电子的动能为横坐标，相对强度(脉冲/s)为纵坐标可做出光电子能谱图，从而获得待测物组成。XPS主要应用是测定电子的结合能来实现对表面元素的定性分析，包括价态。...

能谱仪EDS

可以测量光电子的能量，以光电子的动能为横坐标，相对强度（脉冲/s）为纵坐标可做出光电子能谱图。从而获得试样有关信息。X射线光电子能谱因对化学分析最有用，因此被称为化学分析用电子能谱（Electron Spectroscopy for Chemical Analysis）。 1，元素的定性分析。可以根据能谱图中出现的特征谱线的位置鉴定除H、He以外的所有元素。 2，元素的定量分析。...

KS D ISO 15472-2003(2023)表面化学分析-X射线光电子能谱仪-能量刻度的校准