GB/T 34900-2017
微机电系统（MEMS）技术 基于光学干涉的MEMS微结构残余应变测量方法
Micro-electromechanical system technology—Measuring method for residual strain measurements of MEMS microstructures using an optical interferometer
GBT34900-2017, GB34900-2017
GB/T 34900-2017 发布历史
GB/T 34900-2017由中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 发布于 2017-11-01，并于 2018-05-01 00:00:00.0 实施。
GB/T 34900-2017 在中国标准分类中归属于: L55 微电路综合，在国际标准分类中归属于: 31.200 集成电路、微电子学。
GB/T 34900-2017的历代版本如下：
- 2017年 GB/T 34900-2017 微机电系统（MEMS）技术 基于光学干涉的MEMS微结构残余应变测量方法
- 标准号
- GB/T 34900-2017
- 别名
- GBT34900-2017
GB34900-2017 - 发布
- 2017年
- 发布单位
- 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
- 当前最新
- GB/T 34900-2017