ASTM E1855-04e1
使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法

Standard Test Method for Use of 2N2222A Silicon Bipolar Transistors as Neutron Spectrum Sensors and Displacement Damage Monitors

ASTM E1855-04e1 发布历史

ASTM E1855-04e1由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 2004-06-01。

ASTM E1855-04e1在国际标准分类中归属于: 31.200 集成电路、微电子学。

ASTM E1855-04e1的历代版本如下：

• 2004年06月01日 ASTM E1855-04 使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法
• 2004年06月01日 ASTM E1855-04e1 使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法
• 2005年07月01日 ASTM E1855-05 使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法
• 2005年07月01日 ASTM E1855-05e1 使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法
• 2010年10月01日 ASTM E1855-10 使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法
• 2015年10月01日 ASTM E1855-15 使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法
• 1996年 ASTM E1855-1996 作为中子光谱传感器和位移破坏性监测器的2N2222A硅双极晶体管使用的标准试验方法
• 2020年02月01日 ASTM E1855-20 使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法
• 2004年 ASTM E1855-2004 作为中子光谱传感器和位移损坏监测器的2N2222A硅双极晶体管使用的标准试验方法
• 2004年 ASTM E1855-2004e1 作为中子光谱传感器和位移损坏监测器的2N2222A硅双极晶体管使用的标准试验方法
• 2005年 ASTM E1855-2005 作为中子光谱传感器和位移损坏监测器的2N2222A硅双极晶体管的使用的标准试验方法
• 2005年 ASTM E1855-2005e1 作为中子光谱传感器和位移损坏监测器的2N2222A硅双极晶体管的使用的标准试验方法
• 2010年 ASTM E1855-2010 使用2N2222A硅双极晶体管作中子光谱传感器和位移损坏监控器的标准试验方法
• 2015年 ASTM E1855-2015 作为中子光谱传感器和位移破坏性监测器的2N2222A硅双极晶体管使用的标准试验方法
• 1996年12月10日 ASTM E1855-96 使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法

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标准号

ASTM E1855-04e1

发布日期

2004年06月01日

实施日期

废止日期

无

国际标准分类号

31.200

发布单位

US-ASTM