IEC 62951-8:2023
半导体器件.柔性和可拉伸半导体器件.第8部分:柔性电阻存储器的可拉伸性、柔性和稳定性的试验方法
Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 8: Test method for stretchability, flexibility, and stability of flexible resistive memory
- 标准号
- IEC 62951-8:2023
- 发布
- 2023年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC 62951-8:2023
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