BS IEC 62951-6:2019
半导体器件 柔性和可拉伸半导体器件 柔性导电薄膜方块电阻的测试方法
Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices - Test method for sheet resistance of flexible conducting films
- 标准号
- BS IEC 62951-6:2019
- 发布
- 2019年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 当前最新
- BS IEC 62951-6:2019
- 适用范围
- BS IEC 62951 ‑ 6 - 半导体器件是什么？ BS IEC 62951-6 是用于半导体器件的国际标准的第六部分。 BS IEC 62951-6规定了柔性导电薄膜在弯曲和折叠测试下的方块电阻的术语、测试方法和报告。测量方法包括2点探针、4点探针和蒙哥马利法，可用于原位和异位测量以及各向异性方块电阻的测量。 BS IEC 62951-6 - 半导体器件适合谁？ BS IEC 62951-6 半导体器件有利于： 半导体代工厂
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