IEEE Std 1181-1991

IEEE Recommended Practice for Latchup Test Methods for CMOS and BiCMOS Integrated-Circuit Process Characterization

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标准号

IEEE Std 1181-1991

发布

1991年

发布单位

美国电气电子工程师学会

当前最新

IEEE Std 1181-1991

 

 

适用范围

Recommendations are provided for the layout and test methods required to characterize properly latchup behavior in CMOS and BiCMOS integrated circuit processes or other processes that have similar lateral PNPN topographical layout characteristics. The aim is to allow the characterization of an integrated circuit process architecture so that different approaches can be scientifically compared. This...

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