60749-13-2018
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere (Edition 2.0)

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 13: Atmosphère saline (Edition 2.0)

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标准号

60749-13-2018

发布日期

2018年02月01日

实施日期

2018年02月17日

废止日期

无

中国标准分类号

/

国际标准分类号

/

发布单位

IEC - International Electrotechnical Commission

引用标准

32

适用范围

This part of IEC 60749 describes a salt atmosphere test that determines the resistance of semiconductor devices to corrosion. It is an accelerated test that simulates the effects of severe sea-coast atmosphere on all exposed surfaces. It is only applicable to those devices specified for a marine environment. The salt atmosphere test is considered destructive.