空间应用中塑料封装微电路的要求, 您可以免费下载预览页
扫描电镜及 EDS 能谱仪是半导体以及封装失效分析的重要工具。在封装缺陷和失效分析中,可以通过 SEM-EDS 对焊接或互联界面情况进行高分辨表征,提供更高放大倍率的金属间化合物界面、裂缝和相关缺陷的微区成像以及元素分析。...
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