T/CIE 126-2021
磁随机存储芯片测试方法
Magnetic random access memory chip test method
- 标准号
- T/CIE 126-2021
- 发布
- 2021年
- 发布单位
- 中国团体标准
- 当前最新
- T/CIE 126-2021
- 适用范围
- 本标准给出了磁随机存储(Magnetic Random-Access Memory; MRAM)芯片测试方法的术语、测试原理、测试环境、测试设备、测试程序等。 本标准适用于磁随机存储芯片测试和磁随机存储芯片关键性能（可靠性和电学参数等）验证。