BS ISO 18118:2024
表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南

Surface chemical analysis. Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy. Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials


说明:

  • 此图仅显示与当前标准最近的5级引用;
  • 鼠标放置在图上可以看到标题编号;
  • 此图可以通过鼠标滚轮放大或者缩小;
  • 表示标准的节点,可以拖动;
  • 绿色表示标准:BS ISO 18118:2024 , 绿色、红色表示本平台存在此标准,您可以下载或者购买,灰色表示平台不存在此标准;
  • 箭头终点方向的标准引用了起点方向的标准。
BS ISO 18118:2024

标准号
BS ISO 18118:2024
发布
2024年
发布单位
英国标准学会
当前最新
BS ISO 18118:2024
 
 

BS ISO 18118:2024相似标准


推荐

表面分析(四)

表面分析方法表面分析方法有数十种,常用有离子探针、电子谱分析X射线光电子谱分析,其次还有离子中和、离子散射、低能电子衍射、电子能量损失、紫外线电子等技术,以及场离子显微镜分析等。离子探针分析离子探针分析,又称离子探针显微分析。...

表面分析分析方法

电子谱分析在机械工业中主要用于金属材料氧化、腐蚀、摩擦、磨损润滑特性等研究和合金元素及杂质元素扩散或偏析、表面处理工艺及复合材料粘结性等问题研究。X射线光电子谱分析X射线光电子谱分析,以一定能量X射线辐照气体分子或固体表面,发射出电子动能与该电子原来所在能级有关,记录并分析这些光电子能量可得到元素种类、化学状态电荷分布等方面的信息。...

表面分析技术特征比较

电子谱分析在机械工业中主要用于金属材料氧化、腐蚀、摩擦、磨损润滑特性等研究和合金元素及杂质元素扩散或偏析、表面处理工艺及复合材料粘结性等问题研究。X射线光电子谱分析X射线光电子谱分析,以一定能量X射线辐照气体分子或固体表面,发射出电子动能与该电子原来所在能级有关,记录并分析这些光电子能量可得到元素种类、化学状态电荷分布等方面的信息。...

表面分析基本内容

  biaomian fenxi  表面分析  surface analysis  对固体表面或界面上只有几个原子层厚薄层进行组分、结构态等分析 材料物理试验。表面分析方法有数十种,常用有离子 探针、 电子谱分析 X射线光电子谱分析,其次还有离子中和、离子散射、低能 电子衍射、电子能量损失、紫外线电子等技术,以及 场离子显微镜分析等。...





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号