60191-6-20-2010
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Mechanical standardization of semiconductor devices – Part 6-20: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages – Measuring methods for package dimensions of small outline J-lead packages (SOJ) (Edit


 

 

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标准号
60191-6-20-2010
发布日期
2010年08月01日
实施日期
2010年09月01日
废止日期
中国标准分类号
/
国际标准分类号
/
发布单位
IEC - International Electrotechnical Commission
引用标准
26
适用范围
This part of IEC 60191 specifies methods to measure package dimensions of small outline Jlead- packages (SOJ)@ package outline form E in accordance with IEC 60191-4.




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