本文件描述了用脉冲加热惰性气体熔融红外吸收法测定颗粒硅中氢含量的方法。 本文件适用于流化床法颗粒硅中氢含量的测定,其他硅材料参照使用。 注:本文件测定氢含量的范围取决于所用氢分析仪的量程,最大测定范围为氢量0.00008 mg~2.5 mg。 以质量分数(%)表示的氢分析仪的测定范围因称取样品量的不同而不同。例如,1g 样品最大测定范围的质量分数为0.000008%~0.25%;
GB/T 40566-2021由国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会 发布于 2021-10-11,并于 2022-05-01 00:00:00.0 实施。
GB/T 40566-2021 在中国标准分类中归属于: H82 元素半导体材料,在国际标准分类中归属于: 29.045 半导体材料。
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