DB35/T 1146-2011
硅材料中杂质元素含量测定 辉光放电质谱法
Determination of Impurity Element Content in Silicon Materials by Glow Discharge Mass Spectrometry
DB35/T 1146-2011 中，可能用到以下仪器
- 标准号
- DB35/T 1146-2011
- 发布
- 2011年
- 发布单位
- 福建省地方标准
- 当前最新
- DB35/T 1146-2011
- 本标准规定了测定硅材料中杂质元素含量的辉光放电质谱法（G D M S )所涉及的术语和定义、原理、试剂与材料、仪器设备、样品要求、样品要求、分析步骤、结果计算、允许偏差。 本标准适用于纯度不高于99.99999%的硅材料中的杂质元素L i、Be、B、N a、M g、A 1、P、K、T h、U等元素的测定
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