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2.4.5因为二次离子质谱的定量法是采用相对灵敏度因子法，通过标准样品的镁浓度和相对灵敏度因子，计算待测样品中镁的浓度，所以标准样品中镁的浓度标称值直接影响待测样品的浓度测试值，同时标准样品的不均匀会直接影响待测样品测试结果的准确性。2.4.6 本方法的检测限受仪器本身的性能影响很大，所以仪器型号不同或者仪器的状态（例如最大束流大小、聚焦状态等）不同都会影响本方法的检测限。...
[编辑本段]离子探针 离子探针是用聚焦的一次离子束作为微探针轰击样品表面，测射出原子及分子的二次离子，在磁场中按质荷比（m/e）分开，可获得材料微区质谱图谱及离子图像，再通过分析计算求得元素的定性和定量信息。测试前对不同种类的样品须作不同制备，离子探针兼有电子探针、火花型质谱仪的特点。可以探测电子探针显微分析方法检测极限以下的微量元素，研究其局部分布和偏析。可以作为同位素分析。...
[编辑本段]离子探针 离子探针是用聚焦的一次离子束作为微探针轰击样品表面，测射出原子及分子的二次离子，在磁场中按质荷比（m/e）分开，可获得材料微区质谱图谱及离子图像，再通过分析计算求得元素的定性和定量信息。测试前对不同种类的样品须作不同制备，离子探针兼有电子探针、火花型质谱仪的特点。可以探测电子探针显微分析方法检测极限以下的微量元素，研究其局部分布和偏析。可以作为同位素分析。...
在微型化学实验中，气相色谱可 以用于从混合物中制备纯品 [10] 2.4二次离子质谱技术（SIMS） 二次离子质谱技术（SIMS）是用 一次离子束轰击样品表面，将表面的 原子溅射出来成为带电的离子，然后 用质谱仪分析离子的荷质比，便可知 道表面成分，是非常灵敏的表面成分 分析手段，可用于鉴定有机成分的分 子结构，是最前沿的表面分析技术。 ...
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