XRR是一种方便、快速的分析单层或多层薄膜和表面的方法,是一种纳米尺度上的分析方法,同时可实现无损分析。例如,通过原子层沉积(ALD)技术沉积的薄膜可以用XRR表征薄膜的厚度、密度和界面的粗糙度,同样也适用于其他方法制备的薄膜,如通过分子层沉积(MLD)沉积的有机/无机超晶格。与光学椭偏法不同,该方法不需要预先了解薄膜的光学性质,也不需要假设薄膜的光学性质。...
2、X射线测厚仪X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性,从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心,采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统,已达到要求的轧制厚度。...
FT230有几种有助于进行这种评估的功能。该仪器有一项用于执行健康检查的参考标准,健康检查会检查X射线管和探测器等关键部件的状态。此外还有一项日常检查程序,无论是重新校准还是硬件维护之后,该程序会比较一段时间内的校准结果,以查看仪器是否存在任何需要注意的偏移。软件附带诊断会运行额外的测试,以收集关于仪器状态的更全面信息。...
手持式拉曼光谱仪- 全自动真密度分析仪- 密度计/旋光仪/折光仪/糖度仪- 全自动氨基酸分析仪- TOC总有机碳分析仪- 总有机卤素分析仪、硫氮氯分析仪- 元素分析仪- 总氮/蛋白质分析仪- 台式X射线荧光光谱仪- 三维X射线显微成像系统- 流式颗粒成像分析系统- 薄层扫描仪、点样仪- 水份活度仪- 纳米颗粒跟踪分析仪、颗粒电位滴定仪- 全自动反应量热仪- 火焰光度计、氯离子分析仪- 粉体流动性分析仪...
Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号