KS D ISO 15632-2023
微束分析.与扫描电子显微镜（SEM）或电子探针微量分析仪（EPMA）一起使用的能量色散X射线光谱仪（EDS）的规范和检查所选仪器性能参数

Microbeam analysis — Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy-dispersive X-ray spectrometers(EDS) for use with a scanning electron microscope(SEM) or a

微束分析.与扫描电子显微镜（SEM）或电子探针微量分析仪（EPMA）一起使用的能量色散X射线光谱仪（EDS）的规范和检查所选仪器性能参数 不是强制性中国国家标准，您可以免费下载预览页

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试：免费下载 KS D ISO 15632-2023 前三页，或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准，
点击右侧 “立即购买” 按钮开始采购（由第三方提供）。

标准号: KS D ISO 15632-2023
发布: 2023年
发布单位: KR-KS
当前最新: KS D ISO 15632-2023

KS D ISO 15632-2023相似标准

19/30394914 DC BS ISO 15632 微束分析用于电子探针显微镜或电子探针微量分析仪(EPMA)的能量色散 X 射线光谱仪的规格和检查的选定仪器性能参数 GB/T 21636-2008 微束分析.电子探针显微分析(EPMA)术语 BS ISO 15632:2012 微束分析. 用于电子探针显微分析的能量分散X射线光谱仪规范和检查用所选仪器性能参数 BS ISO 15632:2021 微束分析用于电子探针显微分析的能量分散X射线光谱仪规范和检查用所选仪器性能参数 KS D ISO 15632:2018 微束分析 - 用于电子探针微量分析的能量色散X射线光谱仪的规范和检查的选定仪器性能参数

推荐

SEM与EPMA对比总结

扫描电子显微镜和电子探针显微分析仪基本原理相同，但很多人分不清其差异，实际上需要使用电子探针领域比较少，而扫描电镜相对普遍。今天小析姐就和大家简单看一看两者的区别及EMPA技术的使用情况。扫描电子显微镜（SEM），主要用于固体物质表面电子显微高分辨成像，接配电子显微分析附件，可做相应的特征信号分析。 ...

【干货】电子探针分析的难点解析

X射线谱仪是电子探针的信号检测系统，分为：能量分散谱仪（EDS），简称能谱仪，用来测定X射线特征能量。波长分散谱仪（WDS），简称波谱仪，用来测定特征X射线波长。EDS常用作扫描电镜或透射电镜的微区成分分析。利用发射出来的特征X射线能量不同而进行的元素分析，称为能量色散法。X射线能谱仪的主要构成单元是Si（Li）半导体检测器，即锂飘移硅半导体检测器和多道脉冲分析器。...

请观看视频：03Bruker e-Flash EBSD/TKD电子背散射衍射(Electron Backscatter Diffraction，简称EBSD)是使用扫描电子显微镜(SEM)，或SEM-FIB(聚焦离子束)或电子探针显微分析仪（EPMA）测量和面扫描晶体试样获得晶体学信息的技术。在EBSD设备中，电子束入射倾斜晶体样品，产生的散射电子在荧光屏上形成衍射花样。...

SEM或EPMA？为什么要选电子探针？

扫描电子显微镜和电子探针显微分析仪基本原理相同，但很多人分不清其差异。今天小析姐就和大家简单看一看两者的区别，EMPA技术的使用情况，为什么要选EMPA。（PS：文末有惊喜）电子探针是一种工具，能够得到精确的样品的微米尺寸的域的定量化学分析。高能电子的聚焦光束（点）与样品中的原子相互作用，产生X射线（和其他信号），我们将其与标准中的计数进行量化和比较。它名义上是非破坏性的。扫描电镜-是什么？...

KS D ISO 15632-2023 中可能用到的仪器设备

扫描电镜SEM

KS D ISO 15632-2023微束分析.与扫描电子显微镜（SEM）或电子探针微量分析仪（EPMA）一起使用的能量色散X射线光谱仪（EDS）的规范和检查所选仪器性能参数