GB/T 21636-2008
微束分析.电子探针显微分析(EPMA)术语
Microbeam analysis.Electron probe microanalysis (EPMA).Vocabulary
GBT21636-2008, GB21636-2008
2022-07
- 标准号
- GB/T 21636-2008
- 别名
- GBT21636-2008, GB21636-2008
- 发布
- 2008年
- 采用标准
- ISO 23833:2006 IDT
- 发布单位
- 国家质检总局
- 替代标准
- GB/T 21636-2021
- 当前最新
- GB/T 21636-2021
- 适用范围
- 本标准定义了电子探针显微分析（EPMA）实践中使用的术语，包括一般概念的术语和按技术等级分类的具体概念的术语。 本标准适用于所有有关电子探针显微分析（EPMA）践的标准化文件，部分适用于相关领域[例如：扫描电子显微镜（SEM），分析电子显微镜（AEM），X射线能谱仪等]的标准化文件，用于定义共用的术语。
GB/T 21636-2008相似标准
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一文了解EPMA制样要求
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SEM与EPMA对比总结
同等功能的EPMA比SEM系统造价高出许多。 电子探针(EPMA)具有显微形貌观察和成分分析的功能，与SEM+EDS相比，电子探针更侧重成分分析。电子探针因出色的微区元素分析能力，被广泛应用于材料质量解析、失效分析及热处理工艺等研究。...
扫描电子显微镜（SEM）和电子探针显微分析装置（EPMA）
扫描电子显微镜和电子探针显微分析仪基本原理相同，但很多人分不清其差异，实际上需要使用电子探针领域比较少，而扫描电镜相对普遍。扫描电子显微镜（SEM），主要用于固体物质表面电子显微高分辨成像，接配电子显微分析附件，可做相应的特征信号分析。...
什么是电子探针显微分析仪
电子探针显微分析（EPMA = Electron Probe Microanalysis），全称：电子探针x射线显微分析，是一种显微分析和成分分析相结合的微区分析。适用于分析试样中微小区域的化学成分，是研究材料组织结构和元素分布状态的有效方法。 电子探针显微分析是利用聚焦电子束（电子探测针）照射试样表面待测的微小区域，从而激发试样中元素产生不同波长（或能量）的特征X射线。...
GB/T 21636-2008 中可能用到的仪器设备
电子探针X射线微区分析仪(EPMA)
电镜用X射线能谱仪EDS
X射线衍射仪(XRD)
X射线能谱仪(EDS)
激光共聚焦显微镜
X射线散射仪
X射线(衍射)仪/能谱仪部件及外设
X荧光光谱/XRF（能量色散型X荧光光谱仪）
电子背散射衍射系统EBSD系统
X荧光光谱/XRF（波长色散型）
其它光学测量仪
热解吸仪，热脱附仪
扫描探针/原子力显微镜SPM/AFM
顺磁共振波谱仪
金属多元素分析仪
核磁共振波谱仪
显微图像分析系统
显微操作
透射电镜TEM
材料/金相显微镜
光学平台
激光光散射仪
X射线探伤机、X射线探伤仪
粒子分散性分析仪
熔点仪
其他试验机
等离子体表面处理仪
电子束刻蚀
切割机
冠层分析仪
分子互作分析仪
蛋白质稳定性分析仪
气溶胶分析仪
其他包装业专用
其它行业专用
粒子图像测速仪(PIV)
原子层沉积(ALD)
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