ASTM E1249-15(2021)
使用Co-60源的硅电子器件的辐射硬度测试中最小化剂量误差的标准实践

Standard Practice for Minimizing Dosimetry Errors in Radiation Hardness Testing of Silicon Electronic Devices Using Co-60 Sources

标准号

ASTM E1249-15(2021)

发布

2021年

发布单位

美国材料与试验协会

当前最新

ASTM E1249-15(2021)

 

 

引用标准

ASTM E1250 ASTM E170 ASTM E666 ASTM E668

适用范围

1.1 本实践涵盖了使用剂量计（例如热释光剂量计（TLD））的推荐程序，以确定使用 Co-60 源辐照的电子设备内感兴趣区域的吸收剂量。 Co-60 源通常用于硅电子器件的吸收剂量测试。注 1——这种吸收剂量测试有时称为“总剂量测试”，以区别于“剂量率测试”。注 2——电离辐射对某些类型电子设备的影响可能取决于吸收剂量和吸收剂量率；也就是说，如果设备在不同吸收剂量率下受到相同吸收剂量水平的照射，效果可能会不同。本实践中不包括吸收剂量率的影响，但在辐射硬度测试中应考虑吸收剂量率的影响。
1.2 电子设备吸收剂量测量的主要潜在误差是由材料界面附近的非平衡能量沉积效应引起的。
1.3 给出了有关材料界面附近吸收剂量增强效应的信息。强调了这种效应对 Co-60 光子能谱中低能成分的敏感性。
1.4 对典型的 Co-60 源进行了简要描述，特别强调了此类源输出的光子能谱中存在低能成分。
1.5 给出了使用过滤最小化来自 Co-60 源的光子能谱的低能成分的程序。建议使用过滤箱来实现此类过滤。
1.6 给出了吸收剂量增强效应的信息，该效应取决于设备相对于 Co-60 源的方向。
1.7 使用光谱过滤和适当的设备方向提供了一个辐射环境，可以在规定的误差限度内计算电子设备敏感区域的吸收剂量，而无需详细了解设备结构或源的光子能谱，因此，不知道吸收剂量增强效应的细节。
1.8 本实践的建议主要适用于电子设备的零件测试。电子电路板和电子系统测试可能会引入此处推荐的方法无法充分解决的问题。
1.9 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任建立适当的安全、健康和环境实践，并在使用前确定监管限制的适用性。
1.10 本国际标准是根据世界贸易组织贸易技术壁垒（TBT）委员会发布的《关于制定国际标准、指南和建议的原则的决定》中确立的国际公认的标准化原则制定的。

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