IEC 60749-32:2002+AMD1:2010 CSV
半导体器件.机械和气候试验方法.第32部分:塑料封装器件的可燃性（外部诱导）

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)

 

 

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标准号
IEC 60749-32:2002+AMD1:2010 CSV
发布日期
2010年11月29日
实施日期
废止日期
无
国际标准分类号
31.080.01
发布单位
国际电工委员会

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