迄今为止,X射线衍射技术是沸石结构分析的主要手段,可以精确表征其平均结构,但很难获知与缺陷、界面和表面等局部结构相关的信息。传统STEM使用单个环形探测器来检测透射/散射电子以形成图像,但是该方法获取的信号比较有局限性,无法进一步分析信号中的隐藏信息。而新型的分区/像素化探测器(如JEOL SAAF™/4D Canavas™探测器)可以同时分段获取多个衍射方位上的信息,生成多张STEM图像。...
X-射线衍射 (XRD) 任何结晶物质都具有其特定的化学组成和结构参数(包括点阵类型、晶胞大小、晶胞中的质点数目及坐标等)。当X射线照射到晶体上时,会产生具有一定特征的衍射图形,对应一系列特定的晶面间距和相对强度。根据与晶体样品产生衍射后的X射线信号的特征去分析计算出样品的晶体结构与晶格参数。 ...
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