计算机断层扫描的尺寸比剂量估算(SSDE)计算方法 是非强制性国家标准,您可以免费下载预览页
非常抱歉,我们暂时无法提供预览,您可以试试: 免费下载 KS P IEC 62985-2021 前三页,或者稍后再访问。
您也可以尝试购买此标准,点击右侧 “购买” 按钮开始采购(由第三方提供)。
注意: 点击下载后,生成下载文件时间比较长,请耐心等待......
只能表征的孔径为大于图像分辨率的孔,低于图像分辨率的孔则无法识别。如在研究碳化硅发泡剂对孔隙结构影响过程时。由于加入发泡剂后孔径尺寸明显增大,多为微米级孔,超出压汞法的主要测量范围,且用计算机断层扫描技术还可以研究发泡剂引起孔隙结构变化的 连续过程,因而在研究碳化硅发泡剂对孔隙结构的影响时CT比压汞法更合适。...
Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved 京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号