CB-13-1990
X 射线荧光测量镀层厚度

X-Ray Fluorescence for Measuring Plating Thickness

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标准号

CB-13-1990

发布

1990年

发布单位

ECIA - Electronic Components Industry Association

 

 

适用范围

目的 目前有多种技术用于测量镀层厚度。所有这些都有独特的应用和局限性@基本经济学@但是@要求在常用的镀层厚度范围内测量金厚度@系统必须高度可靠@准确@可重复且快速。在过去的几年中，X 射线荧光系统@比其他任何系统都更能满足这一要求。然而，操作员应该熟悉涉及 X 射线技术的操作的许多方面。本文的目的是强调这些微妙之处，以便 X 射线用户了解它们，并能够实施其仪器操作程序，从而提供尽可能高的准确性和可重复性水平的测量。

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