KS D 0257-2002(2022)
光电导衰减法测量硅单晶中的少数载流子寿命
Measuring of minority - carrier lifetime in silicon single crystal by photoconductive decay method
- 标准号
- KS D 0257-2002(2022)
- 发布
- 2002年
- 发布单位
- 韩国科技标准局
- 当前最新
- KS D 0257-2002(2022)
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