KS D 0257-2002(2022)
光电导衰减法测量硅单晶中的少数载流子寿命

Measuring of minority - carrier lifetime in silicon single crystal by photoconductive decay method

KS D 0257-2002(2022) 发布历史

KS D 0257-2002(2022)由韩国科技标准局 KR-KATS 发布于 2002-05-29。

KS D 0257-2002(2022)在国际标准分类中归属于: 29.045 半导体材料。

KS D 0257-2002(2022)的历代版本如下：

• 0000年 KS D 0257-2002(2022)
• 0000年 KS D 0257-2002(2017)
• 2002年 KS D 0257-2002 光电导衰减测量法测定硅单晶体少数载流子寿命的方法
• 0000年 KS D 0257-1999

标准号

KS D 0257-2002(2022)

发布

2002年

发布单位

韩国科技标准局

当前最新

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