DB35/T 1370-2013
发光二极管芯片点测方法

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标准号

DB35/T 1370-2013

发布日期

2013年12月04日

实施日期

2014年03月01日

废止日期

无

中国标准分类号

L45

国际标准分类号

31.260

发布单位

福建省质量技术监督局

适用范围

本标准规定了发光二极管芯片（以下简称芯片）的点测条件和点测方法。 本标准适用于可见光发光二极管芯片光参数、直流电参数以及静电放电敏感性的点测。紫外光、红 外光发光二极管芯片以及外延片的点测也可参照使用。 本标准不适用于发光二极管芯片的热参数和交流特性测试。