DB35/T 1370-2013
发光二极管芯片点测方法
Light-emitting diode chip point test method
- 标准号
- DB35/T 1370-2013
- 发布
- 2013年
- 发布单位
- 福建省地方标准
- 当前最新
- DB35/T 1370-2013
- 适用范围
- 本标准规定了发光二极管芯片（以下简称芯片）的点测条件和点测方法。 本标准适用于可见光发光二极管芯片光参数、直流电参数以及静电放电敏感性的点测。紫外光、红 外光发光二极管芯片以及外延片的点测也可参照使用。 本标准不适用于发光二极管芯片的热参数和交流特性测试。